半導體冷熱沖擊試驗箱（半導體材料溫度沖擊箱）

芯片，又稱微芯片，是集成電路的載體。半導體冷熱沖擊試驗箱是專門用于對半導體元器件進行溫度循環測試的設備。芯片生產過程中需要對其進行冷熱沖擊試驗。一般情況下，民用芯片的正常溫度范圍是0℃-70℃，軍用芯片性能更高，正常工作溫度范圍是-55℃-125℃。

冷熱沖擊試驗箱(高低溫沖擊試驗箱)可以為電子芯片提供幾秒內溫度驟變的環境，測試其材料對高、低溫的反復抵拉力及產品于熱脹冷縮產出的化學變化或物理傷害。冷熱沖擊試驗箱經常被用來做適應性試驗及對電子元器件的安全可靠性試驗和產品篩選。

規格參數：

溫度范圍：A:-40~+150 ℃ B:-50~+150℃ C:-60~+150℃

高溫室：預熱溫度范圍，RT+20℃~200℃

升溫時間：+20℃~+200℃約30min

低溫室：預冷溫度范圍，RT~-80℃

降溫時間：+20℃~-80℃約80min

實驗室沖擊：溫度均勻度±2.0℃

產品特點：

1. 試驗系統結構設計先進合理，制造工藝規范，外觀美觀、大方，維護保養方便。

2. 零部件的配套與組裝匹配性好，主要功能元器件均采用具有水平的件，提高了產品的安全性和可靠性，能保證使用者長時間、高頻率的使用要求。

3. 設備正常運行所需的附帶條件已有配備，買方只需提供動力電力和滿足要求的工作環境即可。

售后服務：

為用戶提供所需的使用、維護咨詢；

及時向用戶提供易損件和備件；

為使用者派出技術人員對其設備使用、維護進行現場指導；

從驗收之日起12個月質量保證期內，在需方遵守保管、使用和安裝規則的條件下，因試驗箱制造質量問題不能正常工作時，本公司負責免費保修。